В УНИИМ рассказали о новых разработках для контроля параметров многослойных и многокомпонентных покрытий - Учебный центр «Техстандарт» в Москве

Подождите, идет загрузка сайта ...

г. Москва, Электрический переулок 3/10 стр.1, офис № 11

Время работы: 9:00 – 18:00

г. Москва, Электрический переулок 3/10 стр.1  офис № 11

Время работы: 8:00 – 19:00

В УНИИМ рассказали о новых разработках для контроля параметров многослойных и многокомпонентных покрытий

В УНИИМ рассказали о новых разработках для контроля параметров многослойных и многокомпонентных покрытий 20.11.2024

Уральский филиал ВНИИМ им. Д. И. Менделеева (Росстандарт) разработал новые методики измерений и номенклатуру стандартных образцов для метрологического обеспечения контроля параметров многослойных и многокомпонентных покрытий.

Ранее существовавшие нормативные документы и стандартные образцы обеспечивали достоверность измерений лишь для однослойных и однокомпонентных покрытий. Однако потребности отечественной промышленности в измерении параметров многослойных покрытий существенно возросли. В ходе исследований разработаны новые методики воспроизведения единиц поверхностной плотности и массовой доли элементов с применением рентгенофлуоресцентного метода.

Научный сотрудник лаборатории метрологии термометрии и поверхностной плотности УНИИМ Александр Васильев пояснил:

— Новые методики опробованы на моделях многослойных покрытий из эталонов Государственного первичного эталона ГЭТ 168–2015, а также на образцах с покрытием никель-платина, где массовые доли измерялись методом спектроскопии обратного резерфордовского рассеяния. Помимо этого, был создан комплекс стандартных образцов для двухслойных и двухкомпонентных покрытий.

Металлические покрытия играют важную роль в промышленности, обеспечивая коррозионную стойкость изделий и защиту от механического истирания. Повышение точности измерений позволит усовершенствовать технологию нанесения покрытий и оптимизировать расход ценных материалов, включая золото, палладий и платину.

Уральский филиал ВНИИМ продолжает развивать метрологическое обеспечение в области измерений, создавая новые методики и стандартные образцы для повышения точности и надежности контроля.

Источник: Источник: https://news.metrologu.ru/metrologiya/v_uniim_rasskazali_o_novikh_razrabotkakh_dlya_kontrolya_parametrov_mnogocloinikh_i_mnogokompetentnikh_pokritii.html

Возврат к списку

виза/мастер
Мир
Тинькофф
Точка
Долями
Робокасса
подели
ОТП банк
Халва